无损伤式荧光灯气体杂质检测仪
文献类型：专利
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| 作者 | 关亚风 ; 邱长春 ; 唐学渊 ; 韩同生 |
| 发表日期 | 1986-09-24 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | CN85102703 |
| 专利类型 | 发明 |
| 关键词 | 物理化学 |
| 权利人 | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 中文摘要 | 荧光灯气体杂质检测仪用于检测放电管、特别是荧光灯的气体杂质含量.检测仪设置了检测指示部分,温度补偿电路和杂质浓度显示器,能自动显示灯管杂质浓度与击穿放电阈值.检测器灵敏度高,检测杂质浓度范围是P杂/P总10-5～2×10-2,适用温度和压强范围宽(15～35℃和16～3.5乇),所发明的检测仪既可用于检测单只荧光灯管,也可以利用本仪器寻找生产线的故障和生产的在线检测. |
| 是否PCT专利 | 是 |
| 学科主题 | 物理化学 |
| 公开日期 | 1986-09-24 ; 2011-07-11 |
| 申请日期 | 1985-04-01 |
| 语种 | 中文 |
| 资助信息 | 待填写 |
| 专利证书号 | 带填写 |
| 专利申请号 | CN85102703 |
| 专利代理 | 汪惠民 |
| 源URL | [http://159.226.238.44/handle/321008/111123]  |
| 专题 | 大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 关亚风,邱长春,唐学渊,等. 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪, 无损伤式荧光灯气体杂质检测仪. CN85102703. 1986-09-24. |
入库方式： OAI收割
来源：大连化学物理研究所
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