Phase-resolved terahertz self-detection near-field microscopy
文献类型：期刊论文
| 作者 | Linfield, Edmund H.; Hillenbrand, Rainer; Keilmann, Fritz; Scamarcio, Gaetano; Vitiello, Miriam S.; Columbo, Lorenzo L.; Liewald, Clemens; Mastel, Stefan; Giordano, Maria C.; Brambilla, Massimo |
| 刊名 | OPTICS EXPRESS
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| 出版日期 | 2018 |
| 其他题名 | Phase-resolved terahertz self-detection near-field microscopy |
| 语种 | 英语 |
| 源URL | [http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/6107]  |
| 专题 | 苏州纳米技术与纳米仿生研究所_纳米研究国际实验室_张凯团队 |
| 作者单位 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Linfield, Edmund H.,Hillenbrand, Rainer,Keilmann, Fritz,et al. Phase-resolved terahertz self-detection near-field microscopy[J]. OPTICS EXPRESS,2018. |
| APA | Linfield, Edmund H..,Hillenbrand, Rainer.,Keilmann, Fritz.,Scamarcio, Gaetano.,Vitiello, Miriam S..,...&Davies, A. Giles.(2018).Phase-resolved terahertz self-detection near-field microscopy.OPTICS EXPRESS. |
| MLA | Linfield, Edmund H.,et al."Phase-resolved terahertz self-detection near-field microscopy".OPTICS EXPRESS (2018). |
入库方式： OAI收割
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