衬底斜切角对氮化镓基材料生长与光电性质影响研究
文献类型:学位论文
作者 | 江灵荣 |
答辩日期 | 2018 |
文献子类 | 硕士 |
授予单位 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
导师 | 刘建平 |
关键词 | 斜切角,GaN,InGaN,表面形貌,光电特性 |
学位名称 | 硕士 |
学位专业 | 电子与通信工程 |
其他题名 | 衬底斜切角对氮化镓基材料生长与光电性质影响研究 |
源URL | [http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/6342] ![]() |
专题 | 苏州纳米技术与纳米仿生研究所_纳米器件及相关材料研究部_刘建平团队 |
作者单位 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 江灵荣. 衬底斜切角对氮化镓基材料生长与光电性质影响研究[D]. 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所. 2018. |
入库方式: OAI收割
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。