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用于超高真空系统的样品拾放装置

文献类型:专利

作者刘德利,张宝顺,张永红,王荣新,李智
发表日期2018-03-20
国家中国
其他题名用于超高真空系统的样品拾放装置
申请日期2014-11-13
源URL[http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/6423]  
专题苏州纳米技术与纳米仿生研究所_纳米加工公共平台
推荐引用方式
GB/T 7714
刘德利,张宝顺,张永红,王荣新,李智. 用于超高真空系统的样品拾放装置. 2018-03-20.

入库方式: OAI收割

来源:苏州纳米技术与纳米仿生研究所

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