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光谱测试装置及其测试方法

文献类型:专利

作者张敏,张志强,田飞飞,刘磊,郑树楠,周桃飞,徐科
发表日期2018-11-09
国家中国
其他题名光谱测试装置及其测试方法
申请日期2015-04-29
源URL[http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/6448]  
专题苏州纳米技术与纳米仿生研究所_测试分析平台
推荐引用方式
GB/T 7714
张敏,张志强,田飞飞,刘磊,郑树楠,周桃飞,徐科. 光谱测试装置及其测试方法. 2018-11-09.

入库方式: OAI收割

来源:苏州纳米技术与纳米仿生研究所

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