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多功能检测纸芯片

文献类型:专利

作者王腾飞,聂富强
发表日期2018-07-06
国家中国
其他题名多功能检测纸芯片
申请日期2017-08-09
源URL[http://ir.sinano.ac.cn/handle/332007/6475]  
专题苏州纳米技术与纳米仿生研究所_纳米仿生研究部_聂富强团队
推荐引用方式
GB/T 7714
王腾飞,聂富强. 多功能检测纸芯片. 2018-07-06.

入库方式: OAI收割

来源:苏州纳米技术与纳米仿生研究所

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