Transparent Lattice Characterization with Gated Turn-by-Turn Data of Diagnostic Bunch-Train
文献类型：会议论文
| 作者 | Y. Li; W.X. Cheng; K. Ha; R.S. Rainer |
| 出版日期 | 2018 |
| 会议日期 | 2018 |
| 会议地点 | Shanghai China |
| 会议录 | Proceedings of the 60th ICFA Advanced Beam Dynamics Workshop on Future Light Sources
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| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/280635]  |
| 专题 | 学术会议_国际参会_JaCoW高能所参会会议_FLS |
| 作者单位 | BNL, Upton, Long Island, New York, USA |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Y. Li,W.X. Cheng,K. Ha,et al. Transparent Lattice Characterization with Gated Turn-by-Turn Data of Diagnostic Bunch-Train[C]. 见:. Shanghai China. 2018. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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