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非掺半绝缘InP材料的电子辐照缺陷研究

文献类型:期刊论文

作者陈燕 ; 邓爱红 ; 赵有文 ; 张英杰 ; 余鑫祥 ; 喻菁 ; 龙娟娟 ; 周宇璐 ; 张丽然
刊名四川大学学报. 自然科学版
出版日期2010
卷号47期号:5页码:1069-1072
中文摘要本文针对磷化铁(FeP_2)气氛下高温退火非掺杂半绝缘磷化铟(IP SI-InP)材料,应用正电子寿命谱及热激电流谱学技术,研究了该材料在电子辐照前后的缺陷情况.研究发现,该材料经电子辐照后缺陷浓度在增大,且形成了复合体的缺陷结构,电子辐照后的正电子湮没平均寿命增加了18 ps,对应的热激电流谱(TSC)也出现了相应的缺陷峰.本文还对缺陷的特性、影响材料的性能等进行了简要的论述
学科主题半导体材料
收录类别CSCD
资助信息国家自然科学基金
语种中文
公开日期2011-08-16
源URL[http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/21640]  
专题半导体研究所_中科院半导体材料科学重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
陈燕,邓爱红,赵有文,等. 非掺半绝缘InP材料的电子辐照缺陷研究[J]. 四川大学学报. 自然科学版,2010,47(5):1069-1072.
APA 陈燕.,邓爱红.,赵有文.,张英杰.,余鑫祥.,...&张丽然.(2010).非掺半绝缘InP材料的电子辐照缺陷研究.四川大学学报. 自然科学版,47(5),1069-1072.
MLA 陈燕,et al."非掺半绝缘InP材料的电子辐照缺陷研究".四川大学学报. 自然科学版 47.5(2010):1069-1072.

入库方式: OAI收割

来源:半导体研究所

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