基于视差测距的光电跟踪测量设备实时调焦方法研究
文献类型:学位论文
作者 | 王帆 |
答辩日期 | 2019-05-23 |
文献子类 | 硕士 |
授予单位 | 中国科学院大学 |
授予地点 | 中国科学院光电技术研究所 |
关键词 | 光电跟踪测量,短基线,视差测距模型,误差分析,自动调焦,适用性 |
学位名称 | 工程硕士 |
英文摘要 |
根据光测设备多测量头、跟踪精度高等特点,提出了在单台设备上基于双目视差测距的实时调焦方法。研究该方法具有重要工程应用价值。文中讨论了设备测量头布局和测角误差对视差测距的影响,建立了不同焦距视差测距模型并进行详细的误差分析。结合光学系统调焦原理,从理论分析了在满足调焦需求情形下,光测设备口径、焦距、基线、测量精度等参数之间的关系。 结果表明这种方法在小口径、短焦距、长基线的设备上适应性更好。即:在CCD像素尺寸达到5μm,测量头精度达到0.7″的前提下,视差测距调焦方法对于口径在100~200mm,基线在120~700mm,焦距400~1000mm的小型光测设备具有良好的适用性。对于口径在200~300mm,基线在120~700mm的中型设备,只能满足1000~2254mm焦段的调焦需求。而对于口径和焦距更大的大型设备,将不再使用。结合某光测设备的具体参数,进行了测距调焦数值仿真和实时性分析。最后,根据实验数据验证上述结论的正确性。 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/9051] |
专题 | 光电技术研究所_光电技术研究所博硕士论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王帆. 基于视差测距的光电跟踪测量设备实时调焦方法研究[D]. 中国科学院光电技术研究所. 中国科学院大学. 2019. |
入库方式: OAI收割
来源:光电技术研究所
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