Deep Contextual Residual Network for Electron Microscopy Image Segmentation in Connectomics
文献类型:会议论文
作者 | Xiao C(肖驰)1,2![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() | |||
出版日期 | 2018-06 | |||
会议日期 | 美国华盛顿 | |||
会议地点 | 2018-4 | |||
关键词 | Connectomics, Deep Learning, Image Segmentation, Electron Microscopy | |||
DOI | 10.1109/ISBI.2018.8363597 | |||
英文摘要 |
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语种 | 英语 | |||
资助项目 | National Natural Science Foundation of China[61673381] ; National Natural Science Foundation of China[31472001] ; Strategic Priority Research Program of the CAS[XDB02060001] ; Scientific Instrument Developing Project of Chinese Academy of Sciences[YZ201671] ; Special Program of Beijing Municipal Science & Technology Commission[Z161100000216146] | |||
源URL | [http://ir.ia.ac.cn/handle/173211/23697] ![]() | |||
专题 | 类脑智能研究中心_微观重建与智能分析 自动化研究所_类脑智能研究中心 | |||
通讯作者 | Han H(韩华) | |||
作者单位 | 1.Institute of Automation, Chinese Academy of Sciences, Beijing, China 2.School of Future Technology, University of Chinese Academy of Sciences, Beijing, China 3.The Center for Excellence in Brain Science and Intelligence Technology, CAS, Shanghai, China | |||
推荐引用方式 GB/T 7714 | Xiao C,Liu J,Chen X,et al. Deep Contextual Residual Network for Electron Microscopy Image Segmentation in Connectomics[C]. 见:. 2018-4. 美国华盛顿. |
入库方式: OAI收割
来源:自动化研究所
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