基于光谱角度填图的纹影法远场测量焦斑自动重构方法
文献类型：专利
| 作者 | 王拯洲; 李刚 ; 谭萌; 王江枫; 王力; 王伟
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| 发表日期 | 2018-12-13 |
| 专利号 | CN201811528861.1 |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本发明提出一种基于光谱角度填图的纹影法远场测量焦斑自动重构方法，能够提高远场焦斑的重构精度。该方法包括以下步骤：首先，使用最小二乘法来拟合旁斑图像的纹影小球中心；其次，对主瓣图像和旁瓣图像分别进行裁剪；再将主瓣裁减图像中扣除一个和纹影小球大小的圆后的图像cutzb’和旁瓣裁减图像cutpb分别转换成两个列向量；然后，计算两个向量之间的光谱角度填图(SAM)值，当两个向量相似性达到最大值时，则cutzb’图像的左上角位置为最佳匹配点；最后，以最佳匹配点为参考，使用图像cutzb'和旁斑裁减图像cutpb对焦斑进行重构，并在最终的图像拼接过程中使用采用加权平均法对拼接边界进行融合。 |
| 公开日期 | 2019-05-07 |
| 申请日期 | 2018-12-13 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31674]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_先进光学仪器研究室 |
| 作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王拯洲,李刚,谭萌,等. 基于光谱角度填图的纹影法远场测量焦斑自动重构方法. CN201811528861.1. 2018-12-13. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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