用于提高自准直仪测量精度的光源频率调制装置及方法
文献类型：专利
| 作者 | 昌明; 赵建科 ; 刘峰; 郭梁; 乔卫东; 曹昆; 薛勋; 李晶; 李跃; 巩立
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| 发表日期 | 2018-12-29 |
| 专利号 | CN201811633257.5 |
| 著作权人 | 北京航空航天大学 ; 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 产权排序 | 2 |
| 英文摘要 | 本发明公开的用于提高自准直仪测量精度的光源频率调制系统，包括频率发生装置，频率发生装置用于发出3路频率相同、占空比和延时分别可调的脉冲频率源，1路用于对自准直仪的激光光源进行频率调制；1路用于对PSD器件背景光产生的光电信号进行采样保持；1路用于对PSD器件脉冲光产生的光电信号进行采样保持。本发明还公开了光源调制方法，通过控制采样时机，获取稳定的光电信号，为后续处理电路提供正确可信的信号。本发明公开的系统在仪器研制期间可灵活更改，并且，具有延时可调功能，避免了错误信号的混入，进而提高测量精度。 |
| 公开日期 | 2019-07-09 |
| 申请日期 | 2018-12-29 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31642]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_检测技术研究中心 |
| 作者单位 | 1.北京航空航天大学 2.中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 昌明,赵建科,刘峰,等. 用于提高自准直仪测量精度的光源频率调制装置及方法. CN201811633257.5. 2018-12-29. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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