光电经纬仪光学系统变形测试系统
文献类型:专利
作者 | 赵怀学; 周艳; 田留德; 赵建科; 薛勋; 潘亮; 胡丹丹; 刘艺宁; 张洁; 曹昆 |
发表日期 | 2019-05-31 |
专利号 | CN201821544393.2 |
著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
国家 | 中国 |
文献子类 | 实用新型 |
产权排序 | 1 |
英文摘要 | 本实用新型涉及光学系统变形量测试领域,具体涉及一种光电经纬仪光学系统变形测试系统。系统仅由目标模拟器及夹持机构组成,测试时,将目标模拟器通过夹持机构固定在待测光电经纬仪上,每调整一次光电经纬仪的俯仰角度,记录一次目标脱靶量,最后通过最小二乘法拟合光电经纬仪指向精度系统误差修正曲线,旨在实现光电经纬仪在不同俯仰角下,光学系统方位和俯仰方向变形量的连续采样和高精度测量,提高光电经纬仪指向精度。 |
公开日期 | 2019-05-31 |
申请日期 | 2018-09-20 |
语种 | 中文 |
状态 | 已授权 |
源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31663] |
专题 | 西安光学精密机械研究所_检测技术研究中心 |
作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵怀学,周艳,田留德,等. 光电经纬仪光学系统变形测试系统. CN201821544393.2. 2019-05-31. |
入库方式: OAI收割
来源:西安光学精密机械研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。