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光电经纬仪光学系统变形测试系统

文献类型:专利

作者赵怀学; 周艳; 田留德; 赵建科; 薛勋; 潘亮; 胡丹丹; 刘艺宁; 张洁; 曹昆
发表日期2019-05-31
专利号CN201821544393.2
著作权人中国科学院西安光学精密机械研究所
国家中国
文献子类实用新型
产权排序1
英文摘要本实用新型涉及光学系统变形量测试领域,具体涉及一种光电经纬仪光学系统变形测试系统。系统仅由目标模拟器及夹持机构组成,测试时,将目标模拟器通过夹持机构固定在待测光电经纬仪上,每调整一次光电经纬仪的俯仰角度,记录一次目标脱靶量,最后通过最小二乘法拟合光电经纬仪指向精度系统误差修正曲线,旨在实现光电经纬仪在不同俯仰角下,光学系统方位和俯仰方向变形量的连续采样和高精度测量,提高光电经纬仪指向精度。
公开日期2019-05-31
申请日期2018-09-20
语种中文
状态已授权
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31663]  
专题西安光学精密机械研究所_检测技术研究中心
作者单位中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
赵怀学,周艳,田留德,等. 光电经纬仪光学系统变形测试系统. CN201821544393.2. 2019-05-31.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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