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一种阵列式太赫兹真空二极管器件及其制造方法

文献类型:专利

作者阮存军; 戴军; 徐向晏; 刘虎林; 丁一坤
发表日期2018-12-28
专利号CN201811621906.X
著作权人北京航空航天大学 ; 中国科学院西安光学精密机械研究所
国家中国
文献子类发明专利
产权排序1
英文摘要

本发明实施例公开一种阵列式太赫兹真空二极管器件及其制造方法。其中,所述阵列式太赫兹真空二极管器件包括衬底和多个太赫兹真空二极管,所述多个太赫兹真空二极管在所述衬底上呈阵列排布,每个所述太赫兹真空二极管包括光阴极、真空通道层和阳极,在所述真空通道层设置真空通道,所述真空通道贯穿所述真空通道层,所述光阴极和所述阳极设置在所述真空通道的两端,所述光阴极、所述真空通道层和所述阳极之间形成密封腔,所述真空通道呈圆台状,所述光阴极与所述真空通道的接触面积小于所述阳极与所述真空通道的接触面积。本发明实施例提供的阵列式太赫兹真空二极管器件及其制造方法,提供了一种新的太赫兹真空电子器件。

公开日期2019-05-24
申请日期2018-12-28
语种中文
状态申请中
源URL[http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31641]  
专题条纹相机工程中心
作者单位1.北京航空航天大学
2.中国科学院西安光学精密机械研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
阮存军,戴军,徐向晏,等. 一种阵列式太赫兹真空二极管器件及其制造方法. CN201811621906.X. 2018-12-28.

入库方式: OAI收割

来源:西安光学精密机械研究所

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