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Focused Ion Beam (FIB) and Microtome Combined Ultrathin Slice Preparation for Transmission Electron Microscopy (TEM) Observation

文献类型:会议论文

作者Xu, Yuchen; Gu, Lixin; Li, Yang; Mo, Bing; Lin, Yangting
出版日期2019
会议日期JUL 07-12, 2019
会议地点Sapporo, JAPAN
会议录METEORITICS & PLANETARY SCIENCE
ISSN号1086-9379
源URL[http://ir.nssc.ac.cn/handle/122/7081]  
专题国家空间科学中心_空间科学部
推荐引用方式
GB/T 7714
Xu, Yuchen,Gu, Lixin,Li, Yang,et al. Focused Ion Beam (FIB) and Microtome Combined Ultrathin Slice Preparation for Transmission Electron Microscopy (TEM) Observation[C]. 见:. Sapporo, JAPAN. JUL 07-12, 2019.

入库方式: OAI收割

来源:国家空间科学中心

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