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基于白光干涉频域分析的高精度表面形貌测量

文献类型:期刊论文

作者邓钦元; 唐燕; 周毅; 杨勇; 胡松
刊名中国激光
出版日期2018
卷号45期号:6页码:604001-604007
关键词测量 空间频域 白光干涉 2π模糊 相干信息 相位突变
ISSN号0258-7025
DOI10.3788/CJL201845.0604001
文献子类J
英文摘要提出了一种基于空间频域分析的白光干涉测量算法,该算法通过消除相位信息中的2π模糊来实现高精度的表面形貌测量。在频域分析中可以同时提取样品的相干形貌和相位形貌。相干形貌虽然不受2π模糊的影响,但是包含测量误差,精度较低。相位形貌虽然能够实现较高精度的表面形貌测量,但存在2π模糊问题。因此采用相干信息与相位信息相结合的方式来消除相位信息中的2π模糊。此外,针对由背景噪声和光源扰动所引起的局部相位突变,提出了相邻像素点差分分析方法,有效消除了局部相位突变,从而提高了测量的稳定性。该方法不需要复杂的计算,工作效率较高。分别从理论和实验两个方面进行分析,以验证提出方法的有效性。
语种中文
CSCD记录号CSCD:6268744
源URL[http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/9222]  
专题光电技术研究所_微电子装备总体研究室(四室)
作者单位中国科学院光电技术研究所微细加工光学技术国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
邓钦元,唐燕,周毅,等. 基于白光干涉频域分析的高精度表面形貌测量[J]. 中国激光,2018,45(6):604001-604007.
APA 邓钦元,唐燕,周毅,杨勇,&胡松.(2018).基于白光干涉频域分析的高精度表面形貌测量.中国激光,45(6),604001-604007.
MLA 邓钦元,et al."基于白光干涉频域分析的高精度表面形貌测量".中国激光 45.6(2018):604001-604007.

入库方式: OAI收割

来源:光电技术研究所

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