拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化
文献类型：期刊论文
| 作者 | 罗倩; 吴时彬; 汪利华; 杨伟; 范斌 |
| 刊名 | 光电工程
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| 出版日期 | 2018 |
| 卷号 | 45期号:5页码:32-38 |
| 关键词 | 稀疏子孔径 教学建模 拼接检测 波面重构 干涉测量 |
| ISSN号 | 1003-501X |
| DOI | 1003-501X(2018)45:5<170638:PJJCXT>2.0.TX;2-X |
| 文献子类 | J |
| 英文摘要 | 稀疏子孔径拼接检测是大口径、超大口径光学系统像质检测的主要方法之一,其拼接检测的精度与子孔径排列方式、数目以及大小密切相关。本文通过建立数学模型,推导出子孔径个数k在1到无穷区间取值,子孔径个数k与填充因子M的关系曲线,从而得出在1.5m以下系统检测的最优的七个稀疏子孔径排列布局图,并通过Ф200mm自准干涉检验,验证了这种排列布局的合理性。 |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:6253499 |
| 源URL | [http://ir.ioe.ac.cn/handle/181551/9179]  |
| 专题 | 光电技术研究所_质量处（质检中心） |
| 作者单位 | 1.中国科学院光电技术研究所 2.中国科学院大学 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 罗倩,吴时彬,汪利华,等. 拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化[J]. 光电工程,2018,45(5):32-38. |
| APA | 罗倩,吴时彬,汪利华,杨伟,&范斌.(2018).拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化.光电工程,45(5),32-38. |
| MLA | 罗倩,et al."拼接检测系统平面波前稀疏子孔径排列模型的优化".光电工程 45.5(2018):32-38. |
入库方式： OAI收割
来源：光电技术研究所
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