CCD探测器的相对探测效率标定
文献类型：期刊论文
| 作者 | 陆波 ; 张艺; 张子良; 薛荣峰; 刘苗; 迟林祥; 马克岩; 陈勇; 刘晓艳; 杨彦佶
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| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 2016 |
| 卷号 | 36期号:2页码:144-149 |
| 关键词 | CCD 探测器 相对探测效率 EBIT TL 816 + ． 1 |
| ISSN号 | 0258-0934 |
| 英文摘要 | 探测器的探测效率是表征探测器性能的一个重要参数，需对其进行标定。本次试验使用复旦大学EBIT设备，以其配有的高纯锗探测器为标准，对低能X 射线望远镜的CCD 探测器进行探测效率的相对标定，得到在6． 7、8． 3、9． 1、9． 7、10． 4、11． 9 和13． 3 keV 七个能量点CCD 探测器相对于高纯锗探测器的探测效率。其讨论使用的标定方法对今后的探测效率标定工作具有意义。 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/282203]  |
| 专题 | 硬X射线调制望远镜卫星 |
| 作者单位 | 209 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 陆波,张艺,张子良,等. CCD探测器的相对探测效率标定[J]. 核电子学与探测技术,2016,36(2):144-149. |
| APA | 陆波.,张艺.,张子良.,薛荣峰.,刘苗.,...&李茂顺.(2016).CCD探测器的相对探测效率标定.核电子学与探测技术,36(2),144-149. |
| MLA | 陆波,et al."CCD探测器的相对探测效率标定".核电子学与探测技术 36.2(2016):144-149. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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