HXMT高能电子学测试系统的研制
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张智; 余庆龙; 刘聪展 ; 季建峰
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| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 2010 |
| 卷号 | 30期号:8页码:1003-1007 |
| 关键词 | HXMT 测试系统 复合晶体探测器 LVDS-USB |
| ISSN号 | 0258-0934 |
| 英文摘要 | 介绍了为正在研制的HXMT高能电子学系统(ES/HE)研制的一套专用的测试系统.分析了测试系统功能需求,对测试系统进行了整体设计.并着重描述了测试系统中几个主要功能模块的实现原理及方法. |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/282221]  |
| 专题 | 硬X射线调制望远镜卫星 |
| 作者单位 | 清华大学工程物理系, 北京100084 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张智,余庆龙,刘聪展,等. HXMT高能电子学测试系统的研制[J]. 核电子学与探测技术,2010,30(8):1003-1007. |
| APA | 张智,余庆龙,刘聪展,&季建峰.(2010).HXMT高能电子学测试系统的研制.核电子学与探测技术,30(8),1003-1007. |
| MLA | 张智,et al."HXMT高能电子学测试系统的研制".核电子学与探测技术 30.8(2010):1003-1007. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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