本发明涉及一种光致发光测试中避免激发激光谐波影响的方法，该方法中涉及的装置由待测样品、凸透镜、单色仪、入射激光、光致发光、反射激光和探测器组成，通过改变入射激光与待测样品表面的夹角为10°‑30°，而达到避免激发激光二次谐波影响目的。本发明所述方法具有操作简单、效率高、无需任何其他滤光片等特点。解决了目前存在的问题。