本发明属于光电器件测试技术领域，涉及一种低温光致发光快速高效测试方法，该方法中涉及装置是由样品室、低温微电机、待测样品、样品架、凸透镜、滤光片、单色仪、入射激光、光致发光、反射激光和探测器组成，通过连接的低温微电机电源开关和转动速度控制电路，使低温样品室内的样品架旋转，让入射激光打在任何一个待测样品上，这样，不但可以保证每一个待测样品发出来的光致发光光路相同，而且只通过一次降温可以测试多个样品，测试精度和测试速度大大提高。本发明具有结构简单、效率高、节省测试时间等特点。