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一种提高器件抗电离辐射总剂量效应的方法

文献类型:专利

作者郭红霞; 陈伟; 郭旗; 何承发; 罗尹虹; 文林; 王玲; 张凤祁; 赵雯; 肖尧
发表日期2014-08-20
著作权人中国科学院新疆理化技术研究所
文献子类发明专利
英文摘要

本发明涉及一种提高器件抗电离辐射总剂量效应的方法,包括以下步骤:1)制作单层结构复合材料:2)制作多层结构复合材料:3)测量电子束在复合材料中的透射系数:4)采用蒙特卡洛粒子输运方法模拟计算材料的理论透射系数:5)修正电子透射系数;6)采用屏蔽效果最好的复合材料,在器件的相应芯片处进行二次封装。本发明在保证屏蔽效果最好的同时,使封装质量最小,可提高航天器器件抗电离辐射总剂量效应。

申请日期2014-05-22
源URL[http://ir.xjipc.cas.cn/handle/365002/6806]  
专题固体辐射物理研究室
推荐引用方式
GB/T 7714
郭红霞,陈伟,郭旗,等. 一种提高器件抗电离辐射总剂量效应的方法. 2014-08-20.

入库方式: OAI收割

来源:新疆理化技术研究所

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