光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统
文献类型：专利
| 作者 | 赵怀学; 周艳 ; 田留德; 赵建科; 薛勋; 潘亮; 胡丹丹; 刘艺宁; 张洁; 曹昆
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| 发表日期 | 2018-09-20 |
| 专利号 | CN201811100735.6 |
| 著作权人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明专利 |
| 产权排序 | 1 |
| 英文摘要 | 本发明涉及光学系统变形量测试领域，具体涉及一种光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统。系统仅由目标模拟器及夹持机构组成，测试时，将目标模拟器通过夹持机构固定在待测光电经纬仪上，每调整一次光电经纬仪的俯仰角度，记录一次目标脱靶量，最后通过最小二乘法拟合光电经纬仪指向精度系统误差修正曲线，旨在实现光电经纬仪在不同俯仰角下，光学系统方位和俯仰方向变形量的连续采样和高精度测量，提高光电经纬仪指向精度。 |
| 公开日期 | 2019-01-11 |
| 申请日期 | 2018-09-20 |
| 语种 | 中文 |
| 状态 | 申请中 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/31779]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_检测技术研究中心 |
| 作者单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 赵怀学,周艳,田留德,等. 光电经纬仪光学系统变形测试方法及系统. CN201811100735.6. 2018-09-20. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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