开关复位型前放芯片CPRE_SW2的噪声及抗辐射性能测试
文献类型：期刊论文
| 作者 | 曹学蕾 ; 暴子瑜; 李鲜; 王科
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| 刊名 | 湘潭大学自然科学学报
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| 出版日期 | 2018 |
| 期号 | 4页码:66-70 |
| ISSN号 | 1000-5900 |
| 其他题名 | Characteristics of Noise and Radiation-hardness Test about Switch-Reset Preamplifier Chip CPRE_SW2 |
| 文献子类 | Article |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.ihep.ac.cn/handle/311005/286546]  |
| 专题 | 高能物理研究所_粒子天体物理中心 高能物理研究所_实验物理中心 |
| 通讯作者 | 王科 |
| 作者单位 | 中国科学院高能物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 曹学蕾,暴子瑜,李鲜,等. 开关复位型前放芯片CPRE_SW2的噪声及抗辐射性能测试[J]. 湘潭大学自然科学学报,2018(4):66-70. |
| APA | 曹学蕾,暴子瑜,李鲜,&王科.(2018).开关复位型前放芯片CPRE_SW2的噪声及抗辐射性能测试.湘潭大学自然科学学报(4),66-70. |
| MLA | 曹学蕾,et al."开关复位型前放芯片CPRE_SW2的噪声及抗辐射性能测试".湘潭大学自然科学学报 .4(2018):66-70. |
入库方式： OAI收割
来源：高能物理研究所
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