一种测量非线性晶体热功率大小的装置
文献类型：专利
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| 作者 | 熊波; 李晋闽; 林学春; 侯玮; 郭林; 陈然; 马建立; 农光壹 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | CN201010257008.8 ; CN201010257008.8 |
| 著作权人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 专利类型 | 发明 |
| 国家 | 中国 |
| 文献子类 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院半导体研究所 |
| 中文摘要 | 本发明公开了一种测量非线性晶体热功率大小的装置，包括非线性晶体、温度传感器、智能模块、控温电源、控温炉和示波器。非线性晶体放置于控温炉内部，工作于某一设定的温度T1条件下，起到激光变频的作用；温度传感器用于测量非线性晶体的实际工作温度T0，并将该值反馈给智能模块；智能模块用于将温度传感器测量到的非线性晶体的实际工作温度T0与设定的温度T1比较，据此调节控温电源向控温炉输出的加热电压，将非线性晶体控制于设定的工作温度T1下；控温炉采用加热丝作为加热元件；温度传感器、智能模块、控温电源和控温炉构成控温系统，示波器实时测量控温电源向控温炉输出的加热电压的波形W。利用本发明，实现了非线性晶体热功率大小的测量。 |
| 英文摘要 | 本发明公开了一种测量非线性晶体热功率大小的装置，包括非线性晶体、温度传感器、智能模块、控温电源、控温炉和示波器。非线性晶体放置于控温炉内部，工作于某一设定的温度T1条件下，起到激光变频的作用；温度传感器用于测量非线性晶体的实际工作温度T0，并将该值反馈给智能模块；智能模块用于将温度传感器测量到的非线性晶体的实际工作温度T0与设定的温度T1比较，据此调节控温电源向控温炉输出的加热电压，将非线性晶体控制于设定的工作温度T1下；控温炉采用加热丝作为加热元件；温度传感器、智能模块、控温电源和控温炉构成控温系统，示波器实时测量控温电源向控温炉输出的加热电压的波形W。利用本发明，实现了非线性晶体热功率大小的测量。 |
| 公开日期 | 2011-08-31 ; 2011-08-31 |
| 语种 | 中文 ; 中文 |
| 状态 | 公开 |
| 专利申请号 | CN201010257008.8 |
| 专利代理 | 周国城 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/22467]  |
| 专题 | 半导体研究所_全固态光源实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 熊波,李晋闽,林学春,等. 一种测量非线性晶体热功率大小的装置, 一种测量非线性晶体热功率大小的装置, 一种测量非线性晶体热功率大小的装置. CN201010257008.8, CN201010257008.8. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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