8051IP软核容错技术研究
文献类型：学位论文
| 作者 | 谈荒 |
| 学位类别 | 硕士 |
| 答辩日期 | 2008-06-02 |
| 授予单位 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 导师 | 邱跃洪 |
| 关键词 | 高可靠性 TMR EDAC mc8051 IP软核 |
| 学位专业 | 通信与信息系统 |
| 中文摘要 | 随着我国航天事业的发展，高密度集成电子器件在航天器的研制中被大量使用。然而随着器件集成度的提高和工作电压的降低，空间辐射环境对电子系统的影响越来越多。空间辐射环境对电子系统的损害最主要的是单粒子效应(SEE)。 它们会使器件失效或者工作状态发生改变，影响电子设备的可靠运行,因此有必要研究依靠自身的技术解决这些问题的方法。 IP技术是近年来发展极为迅速的一种技术，并且已广泛的应用工业生产、航空航天等等行业。IP技术具有的灵活、易实现的特点决定了它作为提高电子设计可靠性的一个重要方法。IP软核作为IP技术实现的一个重要途径，具有可裁剪、灵活定制以及可方便构成片上Soc系统的特点，在航天工业中已得到广泛应用，因此，有必要对IP软核的容错技术做专门研究。本文的主要工作是在开源MC8051IP软核的基础上研究并实现针对SEE的高可靠性8051IP软核。本文采用TMR、EDAC等技术对原MC8051IP核进行了加固定制。并且对加固后的IP核进行了软件仿真及硬件电路测试，实现了一个可用于实际设计的高可靠性8051IP软核。 |
| 学科主题 | 通信与信息系统 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2011-10-09 |
| 页码 | 76 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/12232]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_中国科学院西安光学精密机械研究所(2010年前) |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 谈荒. 8051IP软核容错技术研究[D]. 中国科学院西安光学精密机械研究所. 2008. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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