NIEL studies on of double-sided silicon micro-strip detector
文献类型：会议论文
| 作者 | Li, Zhankui; Xian, Yongqiang; Yang, Lei; Wang, Pengfei; Li, Haixia; Wang, Zhusheng; Chen, Cuihong; Liu, Fengqiong; Li, Ronghua; Wang, Xiuhua |
| 出版日期 | 2014 |
| 卷号 | 488 |
| DOI | 10.1088/1742-6596/488/14/142014 |
| 英文摘要 | The methods of silicon detector's NIEL are given in this abstract and it also shows NIEL for silicon. |
| 会议录 | XXVIII INTERNATIONAL CONFERENCE ON PHOTONIC, ELECTRONIC AND ATOMIC COLLISIONS (ICPEAC)
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| 会议录出版者 | IOP PUBLISHING LTD |
| 会议录出版地 | DIRAC HOUSE, TEMPLE BACK, BRISTOL BS1 6BE, ENGLAND |
| 语种 | 英语 |
| WOS研究方向 | Physics |
| WOS记录号 | WOS:000338432500382 |
| 源URL | [http://119.78.100.186/handle/113462/58558]  |
| 专题 | 中国科学院近代物理研究所 |
| 通讯作者 | Yang, Lei |
| 作者单位 | Chinese Acad Sci, Inst Modern Phys, Lanzhou 730000, Gansu, Peoples R China |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Li, Zhankui,Xian, Yongqiang,Yang, Lei,et al. NIEL studies on of double-sided silicon micro-strip detector[C]. 见:. |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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