一种前端ASIC芯片测试系统的设计与实现
文献类型：期刊论文
| 作者 | 千奕 ; 苏弘 ; 孔洁 ; 董成富 ; 马晓莉 ; 李小刚 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 2009-09-10 |
| 卷号 | 2009期号:09页码:701-705 |
| 关键词 | 测试系统 硬件设计 I2c Cpld Asic芯片 |
| 通讯作者 | 千奕 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-10-29 |
| 源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/2059]  |
| 专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储（2010之前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 千奕,苏弘,孔洁,等. 一种前端ASIC芯片测试系统的设计与实现[J]. 核技术,2009,2009(09):701-705. |
| APA | 千奕,苏弘,孔洁,董成富,马晓莉,&李小刚.(2009).一种前端ASIC芯片测试系统的设计与实现.核技术,2009(09),701-705. |
| MLA | 千奕,et al."一种前端ASIC芯片测试系统的设计与实现".核技术 2009.09(2009):701-705. |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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