硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计
文献类型：期刊论文
| 作者 | 千奕 ; 苏弘 ; 徐四九 ; 李小刚 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 2008-03-10 |
| 卷号 | 2008期号:03页码:229-232 |
| 关键词 | 硅条探测器 前端asic 测试系统 硬件设计 |
| 通讯作者 | 千奕 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-10-29 |
| 源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/2549]  |
| 专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储（2010之前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 千奕,苏弘,徐四九,等. 硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计[J]. 核技术,2008,2008(03):229-232. |
| APA | 千奕,苏弘,徐四九,&李小刚.(2008).硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计.核技术,2008(03),229-232. |
| MLA | 千奕,et al."硅条探测器前端ASIC芯片测试系统电路设计".核技术 2008.03(2008):229-232. |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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