高电荷态离子入射Al表面库仑势对靶原子特征谱线强度的影响
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王立 ; 张小安 ; 杨治虎 ; 陈熙萌 ; 张红强 ; 崔莹 ; 绍剑雄 ; 徐徐 |
| 刊名 | 物理学报
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| 出版日期 | 2008-01-15 |
| 卷号 | 2008期号:01页码:137-142 |
| 关键词 | 高电荷态离子 库仑势 特征光谱 光谱强度 |
| 通讯作者 | 王立 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-10-29 |
| 源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/2573]  |
| 专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储（2010之前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王立,张小安,杨治虎,等. 高电荷态离子入射Al表面库仑势对靶原子特征谱线强度的影响[J]. 物理学报,2008,2008(01):137-142. |
| APA | 王立.,张小安.,杨治虎.,陈熙萌.,张红强.,...&徐徐.(2008).高电荷态离子入射Al表面库仑势对靶原子特征谱线强度的影响.物理学报,2008(01),137-142. |
| MLA | 王立,et al."高电荷态离子入射Al表面库仑势对靶原子特征谱线强度的影响".物理学报 2008.01(2008):137-142. |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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