电子能损的潜径迹形成机制及理论模型的新进展
文献类型：期刊论文
| 作者 | 侯明东,刘杰,张庆祥 |
| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 2002-07-10 |
| 卷号 | 2002期号:07页码:481-486 |
| 关键词 | 潜径迹 电子能损效应 热峰模型 库仑爆炸模型 |
| 通讯作者 | 侯明东 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-10-29 |
| 源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/4417]  |
| 专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储（2010之前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 侯明东,刘杰,张庆祥. 电子能损的潜径迹形成机制及理论模型的新进展[J]. 核技术,2002,2002(07):481-486. |
| APA | 侯明东,刘杰,张庆祥.(2002).电子能损的潜径迹形成机制及理论模型的新进展.核技术,2002(07),481-486. |
| MLA | 侯明东,刘杰,张庆祥."电子能损的潜径迹形成机制及理论模型的新进展".核技术 2002.07(2002):481-486. |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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