全反射X荧光分析技术及其应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王国栋,谭继廉,付克明,田宇 |
| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 2002-05-20 |
| 卷号 | 2002期号:03页码:268-271 |
| 关键词 | 全反射x荧光分析 镍电解液 阴离子树脂 痕量元素 |
| 通讯作者 | 王国栋 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-10-29 |
| 源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/4465]  |
| 专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储（2010之前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王国栋,谭继廉,付克明,田宇. 全反射X荧光分析技术及其应用[J]. 核电子学与探测技术,2002,2002(03):268-271. |
| APA | 王国栋,谭继廉,付克明,田宇.(2002).全反射X荧光分析技术及其应用.核电子学与探测技术,2002(03),268-271. |
| MLA | 王国栋,谭继廉,付克明,田宇."全反射X荧光分析技术及其应用".核电子学与探测技术 2002.03(2002):268-271. |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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