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β~+延发粒子衰变的一种在束测量方法

文献类型:期刊论文

作者王宏伟,肖志刚,吴和宇,段利敏,张保国,靳根明,李祖玉,魏志勇,柳永英,王素芳,卢朝晖,陈克良,胡荣江,朱海东,岑玲,李湘庆,陈陶,华辉
刊名核电子学与探测技术
出版日期2001-11-20
卷号2001期号:06页码:417-419+439
关键词次级束流线 β+延发粒子衰变 飞行时间 能损 半衰期
通讯作者王宏伟
语种中文
公开日期2010-10-29
源URL[http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/4615]  
专题近代物理研究所_近代物理研究所知识存储(2010之前)
推荐引用方式
GB/T 7714
王宏伟,肖志刚,吴和宇,段利敏,张保国,靳根明,李祖玉,魏志勇,柳永英,王素芳,卢朝晖,陈克良,胡荣江,朱海东,岑玲,李湘庆,陈陶,华辉. β~+延发粒子衰变的一种在束测量方法[J]. 核电子学与探测技术,2001,2001(06):417-419+439.
APA 王宏伟,肖志刚,吴和宇,段利敏,张保国,靳根明,李祖玉,魏志勇,柳永英,王素芳,卢朝晖,陈克良,胡荣江,朱海东,岑玲,李湘庆,陈陶,华辉.(2001).β~+延发粒子衰变的一种在束测量方法.核电子学与探测技术,2001(06),417-419+439.
MLA 王宏伟,肖志刚,吴和宇,段利敏,张保国,靳根明,李祖玉,魏志勇,柳永英,王素芳,卢朝晖,陈克良,胡荣江,朱海东,岑玲,李湘庆,陈陶,华辉."β~+延发粒子衰变的一种在束测量方法".核电子学与探测技术 2001.06(2001):417-419+439.

入库方式: OAI收割

来源:近代物理研究所

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