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利用轫致辐射能谱测定高频腔体电压

文献类型:期刊论文

作者俞鸣峰,高宜海,张生虎,郑启文,郁奇,郭应祥,雷祥国
刊名核技术
出版日期2001-08-10
卷号2001期号:08页码:696-700
关键词高频电场 轫致辐射 连续能谱 能量最大值 光电效应 半导体探测器
通讯作者俞鸣峰
语种中文
公开日期2010-10-29
源URL[http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/4741]  
专题近代物理研究所_近代物理研究所知识存储(2010之前)
推荐引用方式
GB/T 7714
俞鸣峰,高宜海,张生虎,郑启文,郁奇,郭应祥,雷祥国. 利用轫致辐射能谱测定高频腔体电压[J]. 核技术,2001,2001(08):696-700.
APA 俞鸣峰,高宜海,张生虎,郑启文,郁奇,郭应祥,雷祥国.(2001).利用轫致辐射能谱测定高频腔体电压.核技术,2001(08),696-700.
MLA 俞鸣峰,高宜海,张生虎,郑启文,郁奇,郭应祥,雷祥国."利用轫致辐射能谱测定高频腔体电压".核技术 2001.08(2001):696-700.

入库方式: OAI收割

来源:近代物理研究所

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