半导体探测器的厚度确定及CsI(Tl)的刻度
文献类型：期刊论文
| 作者 | 魏志勇,段利敏,吴和宇,靳根明,李祖玉,张保国,王宏伟,肖志刚,柳永英,王素芳,诸永泰,胡荣江 |
| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 2001-06-10 |
| 卷号 | 2001期号:06页码:468-472 |
| 关键词 | 能量刻度 Csi(Tl) 半导体探测器 |
| 通讯作者 | 魏志勇 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-10-29 |
| 源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/4805]  |
| 专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储（2010之前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 魏志勇,段利敏,吴和宇,靳根明,李祖玉,张保国,王宏伟,肖志刚,柳永英,王素芳,诸永泰,胡荣江. 半导体探测器的厚度确定及CsI(Tl)的刻度[J]. 核技术,2001,2001(06):468-472. |
| APA | 魏志勇,段利敏,吴和宇,靳根明,李祖玉,张保国,王宏伟,肖志刚,柳永英,王素芳,诸永泰,胡荣江.(2001).半导体探测器的厚度确定及CsI(Tl)的刻度.核技术,2001(06),468-472. |
| MLA | 魏志勇,段利敏,吴和宇,靳根明,李祖玉,张保国,王宏伟,肖志刚,柳永英,王素芳,诸永泰,胡荣江."半导体探测器的厚度确定及CsI(Tl)的刻度".核技术 2001.06(2001):468-472. |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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