重离子在半导体器件中引起的单粒子效应
文献类型：期刊论文
| 作者 | 侯明东,甄红楼,张庆祥,刘杰,马峰 |
| 刊名 | 原子核物理评论
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| 出版日期 | 2000-09-30 |
| 卷号 | 2000期号:03页码:165-170 |
| 关键词 | 单粒子效应 辐射损伤 软错误 加速器模拟 |
| 通讯作者 | 侯明东 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-10-29 |
| 源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/5027]  |
| 专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储（2010之前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 侯明东,甄红楼,张庆祥,刘杰,马峰. 重离子在半导体器件中引起的单粒子效应[J]. 原子核物理评论,2000,2000(03):165-170. |
| APA | 侯明东,甄红楼,张庆祥,刘杰,马峰.(2000).重离子在半导体器件中引起的单粒子效应.原子核物理评论,2000(03),165-170. |
| MLA | 侯明东,甄红楼,张庆祥,刘杰,马峰."重离子在半导体器件中引起的单粒子效应".原子核物理评论 2000.03(2000):165-170. |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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