双面二维硅微条探测器的沾污失效分析及修复；Contamination failure analysis and repairing for double side two dimensional silicon microstrip detectors
文献类型：期刊论文
| 作者 | 韩励想 ; 李占奎 ; 鲁皖 ; 胡钧 ; 杨彦云 ; 王柱生 |
| 刊名 | 光学精密工程；Optics and Precision Engineering
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| 出版日期 | 2010-12-15 |
| 卷号 | 18期号:12页码:2616-2623 |
| 关键词 | 半导体探测器 硅微条p-n结 沾污 修复 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2011-04-20 |
| 源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/7629]  |
| 专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储（2010之前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 韩励想,李占奎,鲁皖,等. 双面二维硅微条探测器的沾污失效分析及修复；Contamination failure analysis and repairing for double side two dimensional silicon microstrip detectors[J]. 光学精密工程；Optics and Precision Engineering,2010,18(12):2616-2623. |
| APA | 韩励想,李占奎,鲁皖,胡钧,杨彦云,&王柱生.(2010).双面二维硅微条探测器的沾污失效分析及修复；Contamination failure analysis and repairing for double side two dimensional silicon microstrip detectors.光学精密工程；Optics and Precision Engineering,18(12),2616-2623. |
| MLA | 韩励想,et al."双面二维硅微条探测器的沾污失效分析及修复；Contamination failure analysis and repairing for double side two dimensional silicon microstrip detectors".光学精密工程；Optics and Precision Engineering 18.12(2010):2616-2623. |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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