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反冲原子对低速离子轰击Si表面时电子发射产额的影响;Slow highly charged ions induced electron emission from clean Si surfaces

文献类型:期刊论文

作者王建国 ; 徐忠锋 ; 赵永涛 ; 王瑜玉 ; 李德慧 ; 赵迪 ; 肖国青
刊名物理学报
出版日期2010-11-15
卷号59期号:11页码:7803-7805
关键词低速高电荷态离子 电子发射 反冲原子 阻止能损
语种中文
CSCD记录号CSCD:4069960
公开日期2011-04-20
源URL[http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/7715]  
专题近代物理研究所_近代物理研究所知识存储(2010之前)
推荐引用方式
GB/T 7714
王建国,徐忠锋,赵永涛,等. 反冲原子对低速离子轰击Si表面时电子发射产额的影响;Slow highly charged ions induced electron emission from clean Si surfaces[J]. 物理学报,2010,59(11):7803-7805.
APA 王建国.,徐忠锋.,赵永涛.,王瑜玉.,李德慧.,...&肖国青.(2010).反冲原子对低速离子轰击Si表面时电子发射产额的影响;Slow highly charged ions induced electron emission from clean Si surfaces.物理学报,59(11),7803-7805.
MLA 王建国,et al."反冲原子对低速离子轰击Si表面时电子发射产额的影响;Slow highly charged ions induced electron emission from clean Si surfaces".物理学报 59.11(2010):7803-7805.

入库方式: OAI收割

来源:近代物理研究所

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