反冲原子对低速离子轰击Si表面时电子发射产额的影响;Slow highly charged ions induced electron emission from clean Si surfaces
文献类型:期刊论文
作者 | 王建国 ; 徐忠锋 ; 赵永涛 ; 王瑜玉 ; 李德慧 ; 赵迪 ; 肖国青 |
刊名 | 物理学报
![]() |
出版日期 | 2010-11-15 |
卷号 | 59期号:11页码:7803-7805 |
关键词 | 低速高电荷态离子 电子发射 反冲原子 阻止能损 |
语种 | 中文 |
CSCD记录号 | CSCD:4069960 |
公开日期 | 2011-04-20 |
源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/7715] ![]() |
专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储(2010之前) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 王建国,徐忠锋,赵永涛,等. 反冲原子对低速离子轰击Si表面时电子发射产额的影响;Slow highly charged ions induced electron emission from clean Si surfaces[J]. 物理学报,2010,59(11):7803-7805. |
APA | 王建国.,徐忠锋.,赵永涛.,王瑜玉.,李德慧.,...&肖国青.(2010).反冲原子对低速离子轰击Si表面时电子发射产额的影响;Slow highly charged ions induced electron emission from clean Si surfaces.物理学报,59(11),7803-7805. |
MLA | 王建国,et al."反冲原子对低速离子轰击Si表面时电子发射产额的影响;Slow highly charged ions induced electron emission from clean Si surfaces".物理学报 59.11(2010):7803-7805. |
入库方式: OAI收割
来源:近代物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。