剥离线耦合阻抗中的形状因子
文献类型：期刊论文
| 作者 | 顾玮 ; 张文志 |
| 刊名 | 核电子学与探测技术
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| 出版日期 | 1998-11-20 |
| 期号 | 06 |
| 关键词 | 随机冷却 剥离线 形状因子 |
| 英文摘要 | This paper introduces a way to calculate the transfer impedance of striplines used in the stochastic cooling system for storage rings. New expressions of geometry factors are obtained by means of two dimensional electromagnetic field approximation and comformal mapping. Finally, these new expressions are discussed and some conclusions are given. |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:440428 |
| 公开日期 | 2011-09-23 |
| 源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/11023]  |
| 专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储（2010之前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 顾玮,张文志. 剥离线耦合阻抗中的形状因子[J]. 核电子学与探测技术,1998(06). |
| APA | 顾玮,&张文志.(1998).剥离线耦合阻抗中的形状因子.核电子学与探测技术(06). |
| MLA | 顾玮,et al."剥离线耦合阻抗中的形状因子".核电子学与探测技术 .06(1998). |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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