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低能重离子注入麦胚引起深层细胞损伤的一种可能机制
文献类型:期刊论文
作者 | 卫增泉 ; 韩光武 ; 马受武 ; 李文建 ; 颉红梅 ; 杨汉民 ; 高清祥 ; 汪丽虹 ; 王崇英 |
刊名 | 核技术
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出版日期 | 1995-02-10 |
期号 | 02 |
关键词 | 离子注入 次级过程 特征x射线 长射程效应 |
英文摘要 | The cell damage in deep layer of wheat embryo caused by the implanted low-energy heavy-ions can be attributed to the characteristic X-rays as a result of the interaction between the implanted ions and the component elements of wheat.Taking potassium as an example,its 3.589 keV characteristic X-rays can penetrate to a much deeper region in wheat embryo.At a depth of up to 370 μm its intensity drops only by a factor of 1000.It is the "long range effect" caused by the secondary process of heavy-ions that seems |
语种 | 中文 |
CSCD记录号 | CSCD:271912 |
资助机构 | 国家自然科学基金 |
公开日期 | 2011-09-23 |
源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/11177] ![]() |
专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储(2010之前) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 卫增泉,韩光武,马受武,等. 低能重离子注入麦胚引起深层细胞损伤的一种可能机制[J]. 核技术,1995(02). |
APA | 卫增泉.,韩光武.,马受武.,李文建.,颉红梅.,...&王崇英.(1995).低能重离子注入麦胚引起深层细胞损伤的一种可能机制.核技术(02). |
MLA | 卫增泉,et al."低能重离子注入麦胚引起深层细胞损伤的一种可能机制".核技术 .02(1995). |
入库方式: OAI收割
来源:近代物理研究所
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