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特征X射线能谱法测定Fe~+注入小麦种子的深度
文献类型:期刊论文
作者 | 颉红梅 ; 卫增泉 ; 李文建 |
刊名 | 核技术
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出版日期 | 1997-02-10 |
期号 | 02 |
关键词 | 小麦 离子注入 扫描电镜 X射线能谱分析 |
英文摘要 | The intensity distribution of characteristic X-rays from Fe element at different depths of embryo of a wheat seed implanted vertically by 110keV Fe +ions was measured in SEM along the longitudinal channel section. It was shown that the distribution was of exponential decrease similar to the case of thermal diffusion in crystals. |
语种 | 中文 |
CSCD记录号 | CSCD:375125 |
资助机构 | 国家自然科学基金 |
公开日期 | 2011-09-23 |
源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/11239] ![]() |
专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储(2010之前) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 颉红梅,卫增泉,李文建. 特征X射线能谱法测定Fe~+注入小麦种子的深度[J]. 核技术,1997(02). |
APA | 颉红梅,卫增泉,&李文建.(1997).特征X射线能谱法测定Fe~+注入小麦种子的深度.核技术(02). |
MLA | 颉红梅,et al."特征X射线能谱法测定Fe~+注入小麦种子的深度".核技术 .02(1997). |
入库方式: OAI收割
来源:近代物理研究所
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