高能Ar离子辐照聚酯薄膜潜径迹蚀刻
文献类型：期刊论文
| 作者 | 孙友梅 ; 李长林 ; 刘刚 ; 马峰 ; 金运范 ; 刘杰 ; 候明东 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 1998-01-10 |
| 期号 | 01 |
| 关键词 | Pet潜径迹 Ar离子辐照 临界能量损失率 蚀刻速度 |
| 英文摘要 | The energy loss effect in the latent track etching process of PET films irradiated by 900MeV argon ions is discussed. The critical energy-Ioss rate (dE/dX). which is characteristic of the material(PET) is also given. The bulk etching rate Vb and track etching rate Vt are obtained with different methods. |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:440842 |
| 公开日期 | 2011-09-23 |
| 源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/11265]  |
| 专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储（2010之前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙友梅,李长林,刘刚,等. 高能Ar离子辐照聚酯薄膜潜径迹蚀刻[J]. 核技术,1998(01). |
| APA | 孙友梅.,李长林.,刘刚.,马峰.,金运范.,...&候明东.(1998).高能Ar离子辐照聚酯薄膜潜径迹蚀刻.核技术(01). |
| MLA | 孙友梅,et al."高能Ar离子辐照聚酯薄膜潜径迹蚀刻".核技术 .01(1998). |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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