高能Ar离子辐照单晶Si引起的损伤研究
文献类型:期刊论文
作者 | 刘昌龙 ; 侯明东 ; 程松 ; 朱智勇 ; 王志光 ; 孙友梅 ; 王引书 ; 金运范 ; 李长林 ; 孟庆华 |
刊名 | 核技术
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出版日期 | 1998-08-10 |
期号 | 08 |
关键词 | Ar离子辐照 Si 非晶化 双空位 |
语种 | 中文 |
CSCD记录号 | CSCD:440757 |
资助机构 | 国家自然科学基金,甘肃省自然科学基金,中国科学院“九五”重点资助 |
公开日期 | 2011-09-23 |
源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/11275] ![]() |
专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储(2010之前) |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘昌龙,侯明东,程松,等. 高能Ar离子辐照单晶Si引起的损伤研究[J]. 核技术,1998(08). |
APA | 刘昌龙.,侯明东.,程松.,朱智勇.,王志光.,...&孟庆华.(1998).高能Ar离子辐照单晶Si引起的损伤研究.核技术(08). |
MLA | 刘昌龙,et al."高能Ar离子辐照单晶Si引起的损伤研究".核技术 .08(1998). |
入库方式: OAI收割
来源:近代物理研究所
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