电子能损引起的潜径迹
文献类型：期刊论文
| 作者 | 侯明东 ; 刘杰 ; 李保权 |
| 刊名 | 核技术
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| 出版日期 | 1999-07-10 |
| 期号 | 07 |
| 关键词 | 电子能损 潜径迹 损伤缺陷 |
| 英文摘要 | Latent track formation is one of the important effects induced by swift heavyions in condensed matter. An overview on electronic stopping threshold for trackformation, damage cross section and track morphology was given in this paper. |
| 语种 | 中文 |
| CSCD记录号 | CSCD:631241 |
| 资助机构 | 国家自然科学基金!19475051;19775058;;甘肃省自然科学基金!ZR97-025;;中国科学院九工重点资助 |
| 公开日期 | 2011-09-23 |
| 源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/11295]  |
| 专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储（2010之前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 侯明东,刘杰,李保权. 电子能损引起的潜径迹[J]. 核技术,1999(07). |
| APA | 侯明东,刘杰,&李保权.(1999).电子能损引起的潜径迹.核技术(07). |
| MLA | 侯明东,et al."电子能损引起的潜径迹".核技术 .07(1999). |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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