X射线发射光谱测定法的发展趋势简介
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李振坤 ; 张聿照 ; 郝冀方 ; 李文弟 |
| 刊名 | 核物理动态
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| 出版日期 | 1994-09-30 |
| 期号 | 03 |
| 关键词 | 波散和能散x射线荧光 X射线微荧光 超薄窗材料 |
| 英文摘要 | This paper briefly introduces the developing trends of the experimental instruments,the study direction and the quantitative analysis methods on X-Ray Spectrometry(XRS).Although XRS is an old field in the application of nuclear technique, the recent progresses, in various forms of XRS, are dramatic. XRS is now a powerful and well establishedanalytical technique for routine analysis of samples and study of material fine structures. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2011-09-23 |
| 源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/11417]  |
| 专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储（2010之前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李振坤,张聿照,郝冀方,等. X射线发射光谱测定法的发展趋势简介[J]. 核物理动态,1994(03). |
| APA | 李振坤,张聿照,郝冀方,&李文弟.(1994).X射线发射光谱测定法的发展趋势简介.核物理动态(03). |
| MLA | 李振坤,et al."X射线发射光谱测定法的发展趋势简介".核物理动态 .03(1994). |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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