快离子在C_(60)薄膜中电子能损效应
文献类型：期刊论文
| 作者 | 金运范 ; 杨茹 ; 刘昌龙 ; 王衍斌 ; 程松 ; 刘杰 ; 侯明东 ; 姚江东 |
| 刊名 | 科学通报
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| 出版日期 | 1999-10-23 |
| 期号 | 20 |
| 关键词 | 电子能损效应 C_(60)薄膜 快离子 退火效应 |
| 语种 | 中文 |
| 资助机构 | 国家自然科学基金!(批准号 :189750 4 8,196 750 54);; 中国科学院重点基金!(KJ952_S1_4 2 3);; 甘肃省自然科学基金资助项目 |
| 公开日期 | 2011-09-23 |
| 源URL | [http://ir.imp.cas.cn/handle/113462/11533]  |
| 专题 | 近代物理研究所_近代物理研究所知识存储（2010之前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 金运范,杨茹,刘昌龙,等. 快离子在C_(60)薄膜中电子能损效应[J]. 科学通报,1999(20). |
| APA | 金运范.,杨茹.,刘昌龙.,王衍斌.,程松.,...&姚江东.(1999).快离子在C_(60)薄膜中电子能损效应.科学通报(20). |
| MLA | 金运范,et al."快离子在C_(60)薄膜中电子能损效应".科学通报 .20(1999). |
入库方式： OAI收割
来源：近代物理研究所
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