基于遗传算法的全芯片级覆盖率驱动随机验证技术
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王朋宇; 沈海华; 郭 崎; 卫文丽 |
| 刊名 | 计算机研究与发展
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| 出版日期 | 2009 |
| 期号 | 第10期页码:1612~1625页 |
| 关键词 | 验证 大规模集成电路 随机测试生成 覆盖率驱动的测试生成 遗传算法 |
| 英文摘要 | 随机测试生成技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中的重要支撑技术.覆盖率驱动的随机测试生成方法是目前该领域研究的热点.遗传算法具有部分优化问题的黑盒特性，不需要了解问题的太多先验知识，适合处理黑盒优化问题.因此，将遗传算法应用在覆盖率反馈驱动随机测试生成时，不需要复杂的领域先验知识，节约了大量的专家时间，提高了验证的自动化程度.分析了各种基于遗传算法的覆盖率驱动的随机测试生成方法，并在此基础上设计和实现了基于遗传算法的全芯片级覆盖率驱动随机验证平台.该平台被实际应用在龙芯处理器的验证中，实验结果表明，平台有效提高了验证效率. |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-09-29 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/547]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_2009年中文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王朋宇,沈海华,郭 崎,等. 基于遗传算法的全芯片级覆盖率驱动随机验证技术[J]. 计算机研究与发展,2009(第10期):1612~1625页. |
| APA | 王朋宇,沈海华,郭 崎,&卫文丽.(2009).基于遗传算法的全芯片级覆盖率驱动随机验证技术.计算机研究与发展(第10期),1612~1625页. |
| MLA | 王朋宇,et al."基于遗传算法的全芯片级覆盖率驱动随机验证技术".计算机研究与发展 .第10期(2009):1612~1625页. |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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