覆盖率驱动的随机测试生成技术综述
文献类型：期刊论文
| 作者 | 卫文丽; 沈海华; 陈云霁 |
| 刊名 | 计算机辅助设计与图形学学报
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| 出版日期 | 2009 |
| 卷号 | 21期号:4 |
| 关键词 | 验证 Vlsi 随机测试生成 覆盖率驱动的测试生成 |
| 英文摘要 | 随机测试生成技术是当今大规模集成电路仿真验证流程中的一项重要支撑技术．覆盖率驱动的随机测试 生成方法是目前该领域研究的热点之一，其目标是通过覆盖率指导测试向量生成，减少重复测试向量，加速验证的 收敛过程，提高验证的自动化程度和效率．文中全面综述了覆盖率驱动的随机测试生成技术的发展历程、研究现状 和技术分类，并结合具体实例对各种方法及其面临的主要问题进行了讨论、评价和总结． |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-05 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/847]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_2009年中文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 卫文丽,沈海华,陈云霁. 覆盖率驱动的随机测试生成技术综述[J]. 计算机辅助设计与图形学学报,2009,21(4). |
| APA | 卫文丽,沈海华,&陈云霁.(2009).覆盖率驱动的随机测试生成技术综述.计算机辅助设计与图形学学报,21(4). |
| MLA | 卫文丽,et al."覆盖率驱动的随机测试生成技术综述".计算机辅助设计与图形学学报 21.4(2009). |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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