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SoC总线串扰的精简MT测试集

文献类型:期刊论文

作者张颖; 胡瑜; 李晓维; 李华伟
刊名计算机辅助设计与图形学学报
出版日期2009
卷号21期号:4
关键词跳变故障模型 向量冗余 欧托回路 软件自测试
英文摘要多跳变(MT)故障模型是一种有效的总线串扰故障模型,可以测试由电容和电感导致的串扰故障,但是MT 的原始测试集存在严重的向量冗余.通过分析MT原始测试集向量冗余的3类情况,利用欧拉网路对测试向量进行 组合优化,得到MT精简测试集,同时不损失MT故障覆盖率;还设计了MT故障模型的软件自测试程序来实施MT 精简测试集,用于实速在线检测串扰故障,而不需要使用高速测试仪.实验结果表明,采用MT精简测试集可以有效 地减少总线串扰测试的时间和向量存储开销。
语种中文
公开日期2010-11-08
源URL[http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/853]  
专题中国科学院计算技术研究所期刊论文_2009年中文
推荐引用方式
GB/T 7714
张颖,胡瑜,李晓维,等. SoC总线串扰的精简MT测试集[J]. 计算机辅助设计与图形学学报,2009,21(4).
APA 张颖,胡瑜,李晓维,&李华伟.(2009).SoC总线串扰的精简MT测试集.计算机辅助设计与图形学学报,21(4).
MLA 张颖,et al."SoC总线串扰的精简MT测试集".计算机辅助设计与图形学学报 21.4(2009).

入库方式: OAI收割

来源:计算技术研究所

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