扫描链故障确定性诊断向量生成算法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 李晓维; 胡瑜; 王飞 |
| 刊名 | 计算机辅助设计与图形学学报
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| 出版日期 | 2009 |
| 卷号 | 21期号:1 |
| 关键词 | 大规模集成电路测试 扫描链 故障诊断 向量生成 |
| 英文摘要 | 描技术是一种广泛采用的结构化可测试性设计方法，是提高测试质量的有效手段．但由于扫描链及其控 制逻辑可能会占到整个芯片面积的30％，因此扫描链故障导致的失效可能会达到失效总数的50％．提出一种扫描链 故障确定性诊断向量生成算法：首先建立了诊断扫描链故障的电路模型，利用该模型可以采用现有固定型故障测试 生成工具产生扫描链诊断向量；然后提出一种故障响应分析方法，以有效地降低候选故障对的数量，从而在保障诊 断质量的前提下减少诊断向量数目，缩短了诊断过程的时间．实验结果表明，在测试诊断精确度、故障分辨率和向量 生成时间方面，该算法均优于已有的扫描链诊断向量生成方法． |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2010-11-09 |
| 源URL | [http://ictir.ict.ac.cn/handle/311040/854]  |
| 专题 | 中国科学院计算技术研究所期刊论文_2009年中文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李晓维,胡瑜,王飞. 扫描链故障确定性诊断向量生成算法[J]. 计算机辅助设计与图形学学报,2009,21(1). |
| APA | 李晓维,胡瑜,&王飞.(2009).扫描链故障确定性诊断向量生成算法.计算机辅助设计与图形学学报,21(1). |
| MLA | 李晓维,et al."扫描链故障确定性诊断向量生成算法".计算机辅助设计与图形学学报 21.1(2009). |
入库方式： OAI收割
来源：计算技术研究所
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